Обзор рынка

Объем мирового рынка тонкопленочных метрологических систем составил 564,6 миллиона долларов США в 2022 году и, как ожидается, достигнет 1 147,6 миллиона долларов США в 2032 году, а среднегодовой темп роста выручки составит 7,5% в течение прогнозируемого периода.

Быстрые технологические прорывы в процессах нанесения тонких пленок и растущий спрос на высококачественную тонкопленочную продукцию в ряде отраслей конечного использования, включая электронику, аэрокосмическую промышленность и здравоохранение, являются ключевыми факторами, способствующими росту доходов рынка. Системы метрологии тонких пленок используются для измерения толщины, оптических характеристик и других параметров тонких пленок, чтобы гарантировать качество и характеристики продукта.

Загрузите сводку отчета прямо сейчас! Скачать сводку

Кроме того, растущее использование высокотехнологичной электроники, такой как смартфоны, ноутбуки и планшеты, является еще одним ключевым фактором, способствующим росту доходов рынка. Тонкопленочные покрытия необходимы, помимо других функций, для защиты, изоляции и проводимости этих устройств. Спрос на метрологические системы тонких пленок растет благодаря развитию передовых методов осаждения тонких пленок, таких как атомно-слоевое осаждение (ALD) и химическое осаждение из паровой фазы (CVD).

Кроме того, ожидается, что растущая потребность в тонкопленочных покрытиях в аэрокосмическом секторе, включая защитные покрытия, тепловые барьеры и оптические покрытия, будет способствовать росту доходов рынка в течение прогнозируемого периода. Использование тонкопленочных покрытий в секторе здравоохранения растет для доставки лекарств, биосенсоров и медицинских имплантатов.

Кроме того, растущее внимание производителей к инновациям и созданию новых и улучшенных тонкопленочных продуктов является еще одним фактором, способствующим росту доходов рынка. Эти системы помогают производителям обеспечить производительность и качество своей продукции, а также оптимизировать производственный процесс.

Однако высокая стоимость систем метрологии тонких пленок и нехватка квалифицированного персонала для эксплуатации этих систем являются ключевыми факторами, которые могут сдерживать рост доходов рынка. Кроме того, доступность недорогих заменителей тонкопленочных метрологических систем является еще одним фактором, который может сдерживать рост доходов рынка.

Ключевые выводы

Введите Outlook:

Тонкие пленки используются во многих различных приложениях, таких как полупроводники, солнечные элементы и микроэлектроника, а системы метрологии тонких пленок используются для измерения толщины и оптических свойств тонких пленок. Эллипсометрия, рефлектометрия, спектроскопия и другие системы составляют несколько типов систем метрологии тонких пленок, доступных на рынке.

Наиболее распространенным видом тонкопленочной метрологической системы, на который в 2022 году приходилось значительная часть рынка, является эллипсометрия. Изучая поляризацию света, отраженного от поверхности образца, можно определить толщину и оптические характеристики тонких пленок. Высокая точность, неразрушающий контроль и гибкость измерения различных материалов — все это преимущества использования эллипсометрии. Кроме того, в полупроводниковом секторе все чаще используется эллипсометрия из-за ее способности измерять толщину и показатель преломления ультратонких листов.

Ожидается, что еще одна форма системы метрологии тонких пленок, рефлектометрия, будет приносить значительный среднегодовой доход в течение прогнозируемого периода. Рефлектометрия исследует количество света, отраженного от поверхности образца, для расчета толщины и показателя преломления тонких пленок. Преимущества использования рефлектометрии включают превосходную точность, неразрушающий контроль и возможность измерения тонких пленок большой толщины.

Измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок с использованием принципов поглощения и излучения света известно как спектроскопия. Полупроводниковая промышленность использует спектроскопию для определения характеристик тонких пленок сложной структуры, поскольку она дает информацию о химическом составе тонкой пленки. Способность спектроскопии измерять толщину тонких пленок с большой точностью и аккуратностью привела к расширению ее применения.

Другими примерами являются системы для измерения тонких пленок с использованием сканирующей зондовой микроскопии и дифракции рентгеновских лучей. Эти системы используются для измерения кристаллической структуры и топографии тонких пленок соответственно. Эти технологии используются все чаще благодаря их способности предоставлять высокоточную информацию о составе и структуре тонких пленок, а также изображения с высоким разрешением.

Перспективы применения:

Приложения для тонкопленочных метрологических систем включают производство полупроводников, солнечную энергетику, оптику и покрытия и другие. Ожидается, что категория «Производство полупроводников» будет приносить наибольшую долю дохода в течение прогнозируемого периода среди этих приложений.

Растущий спрос на электронные гаджеты, такие как смартфоны, ноутбуки и планшеты, способствует расширению сектора производства полупроводников. Тонкие пленки, которые осаждаются на поверхность пластин в процессе изготовления, измеряются и анализируются с помощью приборов для метрологии тонких пленок, которые необходимы для процесса производства полупроводников. Системы метрологии тонких пленок становятся все более популярными в результате спроса на современные полупроводники с высокой точностью, скоростью и точностью. Кроме того, поскольку системы метрологии тонких пленок могут точно измерять тонкие пленки наноразмерной толщины, ожидается, что растущая тенденция к уменьшению размеров электронных устройств и компонентов приведет к увеличению спроса на них.

Ожидается, что в течение прогнозируемого периода сегмент солнечной энергетики будет значительно расширяться. В производстве и обеспечении качества тонкопленочных фотоэлектрических (PV) элементов широко используются тонкопленочные метрологические устройства. Эти методы используются для измерения толщины тонких пленок, показателя преломления и других характеристик. Спрос на тонкопленочные метрологические системы в солнечной энергетике обусловлен растущим спросом на возобновляемые источники энергии и расширением использования систем солнечной энергии.

Ожидается, что в течение прогнозируемого периода сегмент оптики и покрытий также будет значительно расширяться. Толщину, показатель преломления и другие характеристики тонких пленок, используемых в качестве оптических покрытий, можно измерить с помощью систем метрологии тонких пленок. Поскольку оптические покрытия используются для повышения производительности и долговечности оптических компонентов, они становятся все более востребованными в различных отраслях промышленности, включая аэрокосмическую, автомобильную и электронную.

Такие приложения, как автомобилестроение, нанотехнологии и медицинское оборудование, включены в раздел «Прочее». Растущее использование тонких пленок в медицинских устройствах, таких как кардиостимуляторы и имплантируемые устройства, является движущей силой спроса на тонкопленочные метрологические системы в индустрии медицинского оборудования. Спрос на тонкопленочные метрологические системы обусловлен автомобильным сектором, который использует тонкие пленки во многих различных приложениях, включая покрытия, датчики и дисплеи. Ожидается, что в ближайшие годы потребность в тонкопленочных метрологических системах также возрастет из-за расширения использования тонких пленок в приложениях нанотехнологий.

Региональный прогноз:

Ожидается, что тонкопленочные метрологические системы займут самый большой рынок в Азиатско-Тихоокеанском регионе благодаря растущему спросу на бытовую электронику, такую ​​как смартфоны и ноутбуки, а также расширяющемуся полупроводниковому сектору. Системы метрологии тонких пленок становятся все более востребованными в таких странах, как Китай и Индия, из-за растущего производства электронной продукции и необходимости применения сложных технологий производства.

Министерство энергетики США (DOE), Министерство обороны (DoD), Министерство энергетики (DOE) и Министерство энергетики (DOE). Благодаря значительному присутствию крупных игроков в этом секторе, США являются крупнейшим рынком тонкопленочных метрологических систем в этом регионе.

Благодаря существованию крупных производителей передовой электронной продукции и расширению полупроводникового сектора в регионе, по прогнозам, в Европе будут наблюдаться умеренные темпы роста рынка тонкопленочных метрологических систем.

Запрос на настройку

Конкурентная среда:

Мировой рынок тонкопленочных метрологических систем является высококонкурентным: на долю нескольких крупных и средних игроков приходится большая часть доходов рынка. Крупные игроки на этом рынке применяют различные стратегии, такие как слияния и поглощения, стратегические соглашения и контракты, разработку, тестирование и внедрение более эффективных продуктов, а также инвестиции в исследования и разработки.

Некоторые крупные компании, включенные в мировой отчет о рынке тонкопленочных метрологических систем:

• ОАК Корпорация
• Филметрикс, Инк.
• ХОРИБА, ООО.
• Нанометрика, Инк.
• Рудольф Технологии, Инк.
• Корпорация Метрикон
• Гертнер Научная Корпорация
• Джордан Вэлли Семикондуктс Лтд.
• Аккурион ГмбХ
• Сентек Инструментс ГмбХ

Стратегические разработки:

• В 2021 году корпорация KLA объявила о приобретении Orbotech Ltd., ведущего поставщика систем проверки, тестирования и ремонта полупроводников. Ожидается, что это приобретение укрепит портфель продуктов KLA и увеличит ее долю на рынке мировой полупроводниковой промышленности.
• В 2020 году компания HORIBA, Ltd. объявила о приобретении мексиканского дистрибьютора научных инструментов Araymex. Целью приобретения является усиление присутствия HORIBA на латиноамериканском рынке и расширение ассортимента продукции.
• В 2020 году компания Rudolph Technologies, Inc. объявила о приобретении компании Tamar Technology, поставщика метрологических систем для полупроводниковой промышленности. Ожидается, что это приобретение расширит ассортимент продукции Rudolph и укрепит ее позиции на мировом рынке тонкопленочных метрологических систем.

Запуск новых продуктов:

• Корпорация KLA: В 2021 году корпорация KLA выпустила Surfscan SP7XP, новую систему метрологии тонких пленок, которая обеспечивает высокоскоростное и точное измерение толщины тонких пленок и других важных параметров. Система предназначена для использования в передовых процессах производства полупроводников.
• Nanometrics, Inc.: В 2020 году компания Nanometrics, Inc. запустила систему метрологии толщины пленки и оптического критического размера (OCD) Atlas XP+. Система предназначена для обеспечения высокопроизводительных измерений толщины пленки и ОХ в современных процессах производства полупроводников.
• HORIBA, Ltd.: В 2020 году компания HORIBA, Ltd. запустила UL-3000 Fab, новую систему метрологии тонких пленок для полупроводниковой промышленности. Система предназначена для быстрого и точного измерения толщины пленки, показателя преломления и других параметров в процессах производства полупроводников.
• Rudolph Technologies, Inc.: В 2020 году компания Rudolph Technologies, Inc. запустила серию NSX 330, новую линейку тонкопленочных метрологических систем для полупроводниковой промышленности. В системах используются передовые оптические технологии, обеспечивающие точные и надежные измерения толщины пленки, показателя преломления и других параметров.
• Gaertner Scientific Corporation: В 2020 году Gaertner Scientific Corporation выпустила FilmTek 4000, новую систему метрологии тонких пленок для полупроводниковой промышленности. Система предназначена для обеспечения высокоточных измерений толщины пленки и других параметров в современных процессах производства полупроводников.

Сегменты, включенные в отчет:

В этом отчете представлены исторические данные и прогнозы роста доходов на глобальном, региональном и страновом уровне, а также представлен анализ рыночных тенденций в каждом из сегментов и подсегментов с 2019 по 2032 год. Для целей настоящего отчета отчеты и данные сегментированы. Мировой рынок тонкопленочных метрологических систем в зависимости от типа, применения и региона: